晶體電光調(diào)制綜合實(shí)驗(yàn)裝置

晶體電光調(diào)制綜合實(shí)驗(yàn)裝置主要用于等院校激光業(yè)教學(xué)實(shí)驗(yàn)。在基礎(chǔ)物理實(shí)驗(yàn)和相關(guān)業(yè)的實(shí)驗(yàn)中用以研究電場(chǎng)和光場(chǎng)相互作用的物理過(guò)程，也適用于光通訊與光信息處理的實(shí)驗(yàn)研究。

儀器點(diǎn)
采用性能的鈮酸鋰晶體作為光電調(diào)制晶體。
內(nèi)置可調(diào)鋸齒波、正弦調(diào)制信號(hào)源，可調(diào)直偏壓，外音頻輸入接口。
偏置電壓數(shù)字顯示，直觀。
調(diào)制光接收靈敏度，輸出波形穩(wěn)定；調(diào)制信號(hào)與解調(diào)輸出可同時(shí)行監(jiān)視。
可輸入音頻信號(hào)，利用電光調(diào)制行音頻信號(hào)的激光傳輸和通信。
光具座導(dǎo)軌采用鋁合金型材，滑座可行細(xì)調(diào)節(jié)、鎖緊。

實(shí)驗(yàn)內(nèi)容
1. 顯示電光調(diào)制波形、觀察電光調(diào)制現(xiàn)象
2. 測(cè)量電光晶體的性參數(shù)
3. 測(cè)試電光晶體的調(diào)制性曲線(xiàn)
4. 行電光調(diào)制的光通訊實(shí)驗(yàn)研究與半波電壓測(cè)量