歡迎進(jìn)入北京恒奧德儀器儀表有限公司網(wǎng)站!
Product
當(dāng)前位置:首頁(yè) / 產(chǎn)品中心 / 其他專用儀器 / 其他 / HAD-TT180顯微顆粒圖像粒度儀
顯微顆粒圖像粒度儀,顯微圖像采集系統(tǒng) 型號(hào):HAD-TT180是推出的新代顆粒圖像分析設(shè)備,HAD-TT180采用業(yè)顯微圖像采集系統(tǒng),使樣品觀測(cè)更加清晰。分析軟件系統(tǒng)能夠?qū)悠返摹皢误w數(shù)據(jù)"、“形態(tài)參數(shù)"、“整體分布"等參數(shù)行分析和計(jì)算,可以輕松獲得樣品的整體分布規(guī)律的曲線圖和顆粒形態(tài)描述等豐富數(shù)據(jù),是對(duì)各類顆粒樣品行觀測(cè)和分析的業(yè)儀器設(shè)備
產(chǎn)品分類
PRODUCT CLASSIFICATION相關(guān)文章
RELATED ARTICLES品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國(guó)產(chǎn) |
---|
顯微顆粒圖像粒度儀,顯微圖像采集系統(tǒng) 型號(hào):HAD-TT180
HAD-TT180顯微顆粒圖像粒度儀是推出的新代顆粒圖像分析設(shè)備,HAD-TT180采用的業(yè)顯微圖像采集系統(tǒng),使樣品觀測(cè)更加清晰。分析軟件系統(tǒng)能夠?qū)悠返?ldquo;單體數(shù)據(jù)”、“形態(tài)參數(shù)”、“整體分布”等參數(shù)行分析和計(jì)算,可以輕松獲得樣品的整體分布規(guī)律的曲線圖和顆粒形態(tài)描述等豐富數(shù)據(jù),是對(duì)各類顆粒樣品行觀測(cè)和分析的業(yè)儀器設(shè)備。配套的業(yè)顆粒分析軟件根據(jù)多年來(lái)用戶的使用意見(jiàn)行了更加人性化的升和改,由計(jì)算機(jī)自主分析出樣品各種等效粒徑、X、Y切線等“單體屬性”、以及包括長(zhǎng)徑比、型度在內(nèi)的“形態(tài)參數(shù)”。再通過(guò)步計(jì)算得出此樣品的整體分布情況(包含整體分布曲線等豐富數(shù)據(jù)),軟件中還增加了多幅圖像拼接計(jì)算的模式,成倍增加了參與分析的顆粒數(shù)量,從而有效的保證了數(shù)據(jù)的代表性。后可將樣品的數(shù)據(jù)以報(bào)告的形式輸出(包含有圖像范例、圖表、數(shù)據(jù)列表等),非常便于測(cè)試人員對(duì)測(cè)試結(jié)果行管理和匯報(bào)。
HAD-TT180 顯微顆粒圖像儀參數(shù)及詳細(xì)配置
參數(shù):
硬件參數(shù) | ||
顯微系統(tǒng) | 物鏡 | 4X、10X、40X、60X、100X(油)長(zhǎng)距消色差(平場(chǎng))物鏡組 |
目鏡 | 1X、10X、16X 大視野攝像目鏡 | |
載物臺(tái) | 手動(dòng)三維機(jī)械式載物臺(tái),尺寸:185mm×140mm,移動(dòng)范圍:50mm×75mm,粗微同軸調(diào)焦,微動(dòng)格值:2μm,帶鎖緊和限位裝置 | |
光源 | 底透射光源,6V 20W鹵素?zé)?亮度可調(diào)??蛇x金相落射式光源(帶起偏振器) | |
總放大倍數(shù) | 4倍——1600倍 |
|
輔助光源 | 鹵素光源 | |
粒徑分析范圍 | 1μm~2000μm | |
攝像系統(tǒng) | 分辨率 | 2048×1536 |
像素尺寸 | 3.2μm×3.2μm | |
成像元件 | 1/1.8英寸 progress scan CMOS |
產(chǎn)品優(yōu)勢(shì)
HAD-TT180顯微顆粒圖像儀作為業(yè)的顆粒圖像分析儀器,是為顆粒或顆粒相關(guān)行業(yè)開(kāi)發(fā)的,它的突出優(yōu)勢(shì)主要體現(xiàn)在以下方面:
1. 業(yè)性強(qiáng):與其他廠家的各種類型圖像分析儀器相比,顆粒測(cè)試研究經(jīng)驗(yàn)與圖像學(xué)理論*結(jié)合。本產(chǎn)品不但可對(duì)樣品的顆粒單體行描述,還可以將顆粒的分布情況使用數(shù)據(jù)、圖表等方式行直觀表現(xiàn)。能夠立或輔助激光粒度儀等設(shè)備的行顆粒測(cè)試作。
2.數(shù)據(jù)直觀、易懂,分析結(jié)果目了然:常見(jiàn)的顆粒測(cè)試儀器有激光粒度儀、沉降粒度儀等,但在行顆粒檢測(cè)的同時(shí)還可觀測(cè)樣品形貌的直觀性優(yōu)勢(shì)是其他所有顆粒測(cè)試設(shè)備所不具備的,這能夠使用戶更面的了解顆粒的形貌、狀態(tài)、變化過(guò)程等信息。并且,對(duì)照直觀的樣品圖片,可以幫助用戶的理解報(bào)告中的數(shù)據(jù)含義。
3.應(yīng)用廣泛,性價(jià)比:“HAD-TT180顯微顆粒圖像儀”既可以作為種觀測(cè)儀器,替代傳統(tǒng)顯微鏡行各種樣品的觀測(cè)作,又可以計(jì)算樣品的各項(xiàng)數(shù)據(jù),操作直觀簡(jiǎn)便,應(yīng)用范圍十分廣泛。
010-51655247